Учебное пособие. под общ. ред. Ю.В. Малышенко. – Владивосток: Изд-во ВГУЭС, 2010. – 302 с.
ISBN 978-5-9736-0163-8 Авторы: Малышенко Ю.В., Стыцюра Л.Ф., Саяпин Ю.Л.
Учебное пособие разработано в соответствии с программой курса, а также требованиями образовательного стандарта России к учебной дисциплине «Техническая диагностика». Рассматриваются вопросы диагностирования электронных, в том числе программно-управляемых устройств.
Для студентов, изучающих дисциплины, связанные с проектировани-ем и эксплуатацией электронных изделий.Содержание
Введение.
Основные понятия и задачи технической диагностики.
Технические состояния, надежность и задачи диагностирования.
Средства и системы диагностирования.
Использование различных видов систем диагностирования в процессах производства электронных изделий.
Модели объектов и неисправностей.
Модели исправных объектов.
Модели неисправных технических состояний.
Таблица функций неисправностей и таблица неисправностей.
Проверяемость и различимость неисправностей.
Критерии оценки тестов и систем диагностирования.
Виды критериев оценки.
Оценка полноты контроля.
Оценка глубины поиска неисправностей.
Достоверность контроля.
Анализ на состязания тестов цифровых схем.
Методы построения тестов цифровых устройств.
Понятия контролирующего и диагностического тестов.
Получение тупиковых тестов с использованием таблиц неисправностей.
Метод активизации одномерного пути.
d-алгоритм.
Построение теста по методу булевой производной.
Построение теста по методу эквивалентной нормальной формы.
Использование модели конечного автомата для построения тестов.
Построение тестов для микропроцессорных систем.
Внутрисхемное (поэлементное) диагностирование.
Назначение и принципы внутрисхемного диагностирования.
Принципы измерений параметров элементов с помощью вольтметров и амперметров.
Особенности определения работоспособности различных элементов с помощью простейших приборов.
Погрешности методов и средств измерений.
Принципы и методы организации измерений параметров элементов в автоматизированных системах поэлементного диагностирования.
Автоматизированные системы поэлементного диагностирования.
Организация диагностирования и обслуживания микропроцессорных устройств.
Особенности микропроцессора как объекта диагностирования.
Общие принципы организации технического обслуживания ПЭВМ.
Логические анализаторы и пробники.
Внутрисхемные эмуляторы.
Сигнатурный анализ.
Диагностические платы.
Средства отладки микропроцессорных систем.
Проектирование контролепригодных устройств.
Понятие и критерии контролепригодности.
Контроль и восстановление информации с использованием кодирования.
Схемные решения повышения контролепригодности.
Стандарты периферийного сканирования.
Тестирование программ.
Основные понятия и цели тестирования.
Программа как объект тестирования.
Организационно-методические аспекты тестирования.
Построение тестов.© Издательство Владивостокский государственный университет экономики и сервиса, 2010
