Пер. с нем. — М.: Металлургия, 1985. — 416 с.: ил.Описаны некоторые методы исследования, часто используемые в исследовательских лабораториях, и более редкие, применяемые в специальных случаях, как современные, так и ставшие уже классическими. Рассматриваемые методы предназначены в основном для изучения некоторых физических свойств,структуры металлов и сплавов, однако они могут быть использованы также при исследовании полимеров, неорганических неметаллических материалов и керамики, строительных материалов.
Для научных и инженерно-технических работников различных отраслей промышленности: металловедов и материаловедов, геологов и минералогов. Может быть полезна студентам вузов и аспирантам соответствующих специальностей.
Данное пособие, несмотря на возраст, дает важную информацию о методах исследования применяемых в настоящее время, так как физические основы методов остались прежними.Предисловие к русскому изданию.
Вступление.
Предисловие.
Взаимосвязь структуры и свойств материала
Проблема систематизации свойств материала.
Структурные факторы, влияющие на макроскопические свойства материала.
Исследование состава и структуры материала.
Уточнение некоторых понятий электронной структуры.
Методы термодинамического исследования
Введение.
Проблемы металловедения и методы термодинамического исследования.
Методы калориметрического исследования.
Методы исследования констант равновесия металлов и сплавов.
Количественная металлография
Предмет количественной металлографии.
Систематизация структуры с геометрической точки зрения.
Полуколичественные методы металлографического исследования.
Основные методы исследования.
Рекомендации по фотографированию и изображению структуры для определения распределения по размерам.
Вспомогательные средства и приборы количественной металлографии.
Примеры использования методов количественной металлографии.
Рентгеноструктурный анализ
Основы.
Исследование поликристаллических образцов.
Анализ дифракции рентгеновских лучей.
Дифракция нейтронов
Основы.
Экспериментальная часть.
Исследования структуры кристаллов.
Фазовый анализ.
Исследования текстуры.
Исследование магнитных моментов и структур.
Просвечивающая электронная микроскопия
Введение.
Подготовка образцов.
Оборудование.
Электронно-микроскопическое изображение.
Области использования.
Рентгеноспектральный микроанализ и растровая электронная микроскопия
Введение.
Основы электронно-зондового микроанализа.
Устройство приборов.
Растровая электронная микроскопия.
Рентгеноспектральный микроанализ.
Масс-спектрометрия вторичных ионов и ионный микроанализ
Введение.
Основы масс-спектрометрии вторичных ионов.
Аппаратура.
Применение метода ВИМС.
Фотоэлектронная спектроскопия
Принципы фотоэлектронной спектроскопии твердых тел.
Аппаратура для получения ФЭС-спектров.
Получение ЭСХА-спектров.
Оже-электронная спектроскопия
Основные положения.
Экспериментальная техника.
Применение при изучении материалов.
Мёссбауэровская спектроскопия
Основы.
Экспериментальные аспекты.
Возможности применения.
Аннигиляция позитронов
Введение.
Основы метода.
Техника измерения.
Теория аннигиляции позитронов в реальных кристаллах.
Применение метода аннигиляции позитронов для исследования дефектов кристаллической решетки в металлах.
Библиографический список
