Учебное пособие. — СПб.: Университет ИТМО, 2015. — 130 с.Описаны основные методики исследования материалов фотоники. Приведены описания микроскопических, рентгеновских и оптических методов исследования структуры и свойств материалов. Описаны принципы работы и различные схематические решения установок для изучения свойств материалов.
Рекомендовано Учебно-методическим объединением вузов Российской Федерации по образованию в области приборостроения и оптотехники для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению подготовки бакалавриата 12.03.03 (200700) – Фотоника и оптоинформатика.Содержание
Микроскопические методы исследования наноматериалов
Методы сканирующей электронной микроскопии
Туннельная электронная микроскопия
Атомно-силовая микроскопия
Ближнепольная оптическая микроскопия
Рентгеновские методы исследования структуры наноматериалов
Метод малоуглового светорассеяния
Рентгенофазовый анализ
Метод малоуглового рентгеновского рассеяния
Рентгеновская спектроскопия
Оптические методы исследования наноматериалов
Спектроскопия комбинационного рассеяния
Фотолюминесцентная спектроскопия
Основы дисперсионной спектрофотометрии
Основы Фурье-спектрометрии
