ИФТТ РАН, Подмосковный филиал МГУ им. М.В. Ломоносова. Черноголовка - Редакционно-издательский отдел ИПХФ РАН, 2002. - 144с.УДК 548.955
ББК 22.37
Ш 54ISBN 5-901675-07-XПредлагаемая читателю книга включает в себя содержание лекционного курса по рассматриваемому направлению физического материаловедения. Изложение требует знакомства читателя с основами физики и химии и не предполагает предварительной подготовки в области кристаллографии.Элементы кристаллографии.
Геометрическое описание трансляционной решётки. Понятия и термины.
Точечные группы.
Пространственные группы.
Полное описание известной структуры кристалла.
Принципы плотнейшей упаковки. Политипия.
Дифракционный эффект в кристалле. Обратная решётка.
Источники излучений и экспериментальная техника.
Техника рентгеновского эксперимента.
Источники синхротронного излучения.
Источники нейтронов.
Аппараты для электронной дифракции.
Основы теории рассеяния на периодической атомной структуре.
Рассеяние рентгеновских лучей. Атомная амплитуда.
Рассеяние на элементарной ячейке. Структурная амплитуда.
Рассеяние на кристалле. Интерференционная функция Лауэ.
Разложение в ряд фурье и принципы структурного анализа.
Интенсивность рефлексов. Эффекты динамической теории.
Экспериментальные направления в структурном анализе.
Расшифровка ранее неизвестной кристаллической структуры.
Рентгенодифракционная аттестация материалов.
Кристаллография в физическом материаловедении.
Структурные перестройки и реальная структрура кристыллов.
Новые тенденции в кристаллографии.Параметры скана:
разрешение 2054×3215 ;
чёрно-белый;
OCR-слой отсутствует.
