М.: ВНИИ технической информации, классификации и кодирования, 1987. 104 с. , 20 илл. (Сер. "Метрологическое обеспечение измерений"; Вып. 5/ВНИИКИ).Описаны основные методы измерений магнитных параметров пленок и даны оценки их возможностей по чувствительности и точности. Сформулированы критерии их применения для измерений на пленках из материалов различных классов. Рассмотрены современные виды измерительных установок, основанные на использовании магнитоэлектрического и магнитооптического методов. Обзор представляет интерес для метрологов и специалистов, занимающихся разработкой пленочных магнитных материалов, их исследованием и созданием измерительной аппаратуры.Введение.
Общие сведения о магнитных пленках.
Основные методы измерения магнитных характеристик пленок.
Магнитоэлектрические установки.
Магнитооптические установки.
Заключение.
Литература.
