М.: Машгиз, 1961. — 176 с.Изложены основные методы электронно — микроскопического исследования различных объектов. Подробно рассматриваются методы прямого исследования с помощью электронного микроскопа просвечивающего типа (изготовление пленок-подложек, препарирование объектов и т.п.) и косвенного изучения поверхности массивных образцов методом одно- и двух ступенчатых отпечатков. Описываются способы повышения контраста, оценки разрешающей способности отпечатков различного типа, а также методические особенности подготовки к электронномикроскопическому исследованию различных образцов: металлографических шлифов, поверхностей изломов, объектов малых размеров, волокон.
Книга предназначена для работников электронномикроскопических лабораторий и студентов факультетов материаловедческого профиля.Предисловие.
Введение.
Прямые методы исследования
Способы помещения объекта в электронный микроскоп.
Пленки-подложки.
Препарирование порошков.
Тонкие пленки.
Косвенные методы исследования. Одноступенчатые отпечатки
Пластические отпечатки.
Кварцевые отпечатки.
Отпечатки из закиси кремния.
Металлические отпечатки.
Угольные отпечатки.
Оксидные отпечатки.
Отпечатки с фиксированными частицами (полупрямой метод исследования).
Электролитические отпечатки.
Двухступенчатые отпечатки
Штампованные отпечатки.
Заливаемые отпечатки.
Напыляемые двухступенчатые отпечатки.
Хранение приготовленных отпечатков.
Методы повышения контраста
Повышение контраста при прямых методах исследования.
Косвенные методы исследования.
Материалы, применяемые для оттенения. Техника оттенения.
Методы изучения в электронном микроскопе выбранного участка поверхности
Методы оценки разрешающей способности отпечатков
Подготовка образцов к электронномикроскопическому исследованию
Металлы и сплавы.
Поверхности излома (микрофрактография).
Керамика. Стекла.
Волокнистые материалы.
Объекты малых размеров.
Литература
