Курс лекций является первым учебно-методическим пособием по современным методам исследования оптических материалов. В нем кратко рассмотрены основы рентгеновских, оптических, спектральных и термических методов исследования оптических материалов, в том числе и наноматериалов. Дан анализ областей применения этих методов применительно к задачам, связанным с проведением исследований по разработке новых оптических материалов. Описание принципов действия методов сопровождается набором иллюстраций в формате 2D и 3D, которые позволяют представить данные, получаемые на приборах, в наглядной форме, удобной для восприятия многоплановой информации. Учебное пособие предназначено для магистров, обучающихся по направлению «Фотоника и оптоинформатика» по магистерской программе «Оптические материалы фотоники и оптоинформатики» при изучении дисциплин «Конденсированные лазерные среды», «Волноводная фотоника», «Материалы и технологии волоконной и интегральной оптики», «ИК-фотоника», «Спектроскопия и рефрактометрия», «Наноматериалы и нанотехнологии», «Стеклообразные полупроводники для фотоники», «Методы исследования материалов фотоники», «Органические оптические материалы и композиты», а также обучающихся по направлению «Оптотехника» при изучении дисциплин «Методы и приборы для научных исследований» и «Материалы лазерной оптоэлектроники».
Author(s): В.М. Золотарев, Н.В. Никоноров, А.И. Игнатьев
Publisher: НИУ ИТМО
Year: 2013
Language: Russian
Pages: 166
Tags: Приборостроение;Оптоэлектроника;
ЧАСТЬ 1. МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ ПОВЕРХНОСТИ ОПТИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ......Page 5
1.1.1. Туннельная электронная микроскопия......Page 6
1.1.2. Атомно-силовая микроскопия......Page 8
1.2.1. Основы формирования изображения......Page 14
1.2.2. Способы повышения контраста......Page 15
1.2.3. Микроскопия темного поля......Page 16
1.2.4. Фазо-контрастная микроскопия......Page 17
1.2.5. Поляризационная микроскопия......Page 19
1.2.6. Микроскопия на основе дифференциального интерференционного контраста......Page 27
1.2.7. Конфокальная микроскопия......Page 29
1.3. Ближнепольная оптическая микроскопия......Page 33
1.4. Микроскопы в системах на объединенной платформе......Page 42
Литература к разделам 1.1-1.4......Page 47
1.5. Построение спектральных и химических 2D– и 3D –видео-изображений на основе ближнепольной ИК– и КР– спектроскопии......Page 49
Литература к разделу 1.5......Page 55
2.1. Метод внешнего отражения......Page 58
2.1.1. Соотношения Крамерса — Кронига......Page 59
2.1.2. Классический дисперсионный анализ (KДA)......Page 62
2.1.3. Метод дифференцирования в спектроскопии отражения......Page 65
Литература к разделу 2.1......Page 68
2.2. Метод нарушенного полного внутреннего отражения......Page 69
2.2.1. Методы спектроскопии НПВО с использованием термопластичных стекол......Page 75
2.2.2.Техника спектроскопии внешнего отражения и НПВО......Page 81
Литература к разделам 2.1.-2.2......Page 87
2.3. Метод разностной спектроскопии отражения......Page 88
2.3.1. Объемные и поверхностные свойств кварцевого стекла......Page 89
2.3.2. Индукционный период кристаллизации кварцевого стекла......Page 102
Литература к разделу 4.3......Page 107
2.4. Метод малоуглового светорассеяния......Page 108
Литература к разделу 2.4.......Page 114
2.5. Метод малоуглового рентгеновского рассеяния......Page 115
Литература к разделу 2.5......Page 120
2.6. Методы диффузного светорассеяния......Page 121
Литература к разделу 2.6......Page 132
2.7. Метод определения градиента показателя преломления......Page 133
2.8. Метод фототермического отклонения луча......Page 136
Литература к разделу 2.8......Page 140
2.9.1. Оптика планарного волновода......Page 141
2.9.2. Исследование параметров оптических волноводов......Page 154
Литература к разделу 9......Page 163
