Исследование электронных состояний в низкоразмерных структурах методами сканирующей зондовой микроскопии

This document was uploaded by one of our users. The uploader already confirmed that they had the permission to publish it. If you are author/publisher or own the copyright of this documents, please report to us by using this DMCA report form.

Simply click on the Download Book button.

Yes, Book downloads on Ebookily are 100% Free.

Sometimes the book is free on Amazon As well, so go ahead and hit "Search on Amazon"

Учебно-методический материал по программе повышения квалификации «Физико-химические основы нанотехнологий». - Нижний Новгород, ННГУ, 2007. - 77 с.
Рассматриваются методы визуализации пространственного распределения локальной плотности электронных квантовых состояний низкоразмерных структур и отдельных атомов с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Излагаются основы теории сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии. Описаны результаты экспериментов, в которых проведена топография и исследована структура локальной плотности состояний в квантовых ямах, квантовых точках и в точечных квантовых контактах. Обсуждаются методы наблюдения локальной плотности состояний электронов, локализованных на отдельных атомах и в квантовых коралях. Рассматриваются методики исследования спиновых состояний отдельных атомов и групп атомов с помощью магнитной резонансно-силовой и магнитной обменно-силовой микроскопии.

Author(s): Демиховский В.Я., Филатов Д.О.

Language: Russian
Commentary: 557219
Tags: Специальные дисциплины;Наноматериалы и нанотехнологии;Методы исследования наноматериалов