Таганрог: ТТИ ЮФУ, 2010. - 152 с.В конспекте рассматриваются геометрическое описание кристаллической решетки, теория симметрии кристаллов и способы контроля параметров микроструктуры материалов методами дифракционного анализа. Приводятся способы построения элементарных ячеек, трансляционная симметрия, точечные и пространственные группы симметрии и использование информационных технологий в кристаллографии.
Конспект лекций предназначен для изучения курса «Кристаллография» студентами специальностей 210100 и 210600, а также может быть полезно студентам других
специальностей.
