Учебное пособие. - СПб.: СПбГЭТУ ЛЭТИ, 2011. - 107 с. - ISBN 978-5-7629-1211-2.Рассмотрены принципы формирования иерархических пористых струк-тур, а также методы их исследования. Предназначено для подготовки магистров по направлению 210100 «Электроника и наноэлектроника» и бакалавров по направлениям 210100 «Электроника и наноэлектроника» и 222900 «Нанотехнологии и микросис-темная техника». Может быть полезно для специалистов, работающих в об-ластях твердотельной электроники, микро- и наноэлектроники, микро- и на-носистемной техники, тонкопленочной сенсорики.
Рецензенты: кафедра общей и технической физики СПбГГУ; д-р физ.-мат. наук, проф. Немов С.А. (СПбГПУ).Оглавление:.
Самосборка и самоорганизация в нанотехнологиях.
Основные понятия и определения.
Особенности самосборки.
Кинетика коагуляции.
Иерархические структуры.
Модулярный принцип строения наноструктур и принцип структурной иерархии.
От упорядоченных пористых структур к иерархическим сетям.
Классификация пористых материалов с помощью адсорбционной терминологии.
Адсорбционная терминология.
Классификация пористых материалов.
Иерархические наноматериалы на основе дендримеров.
Дендримеры как объекты наноматериалов.
Синтез дендримеров.
Параметры дендримеров.
Направления в области применения дендримеров.
Мегамеры – новый класс макромолекул.
Супрамолекулярные структуры.
Компоненты супрамолекулярных ассоциатов.
Краун-эфиры.
Криптанды.
Сферанды.
Классификация супрамолекулярных соединений хозяин-гость.
Новый класс материалов «фононное стекло».
Неорганические твердофазныет клатратные соединения – цеолиты.
Природа супрамолекулярных взаимодействий.
Методы исследования иерархических пористых структур.
Методы исследования пористой структуры твердого тела.
Методика определения площади поверхности макро- и мезопор методом количественного анализа атомно-силовых изображений.
Определение площади поверхности иерархических пористых тел.
Исследование наноструктур при наложении возмущающего электрического воздействия с переменной частотой.
Магнитно-резонансная спектроскопия пористых структур.
Методики диагностики наноструктур на основе метода измерения внутреннего трения.
