Спектроскопия высокой разрешающей силы

ОГЛАВЛЕНИЕ: Предисловие (7). РАЗДЕЛ I. СПЕКТРОСКОПЫ ВЫСОКОЙ РАЗРЕШАЮЩЕЙ СИЛЫ Глава I. Ступенчатая решетка (эшелон Майкельсона) (11). Глава II. Плоско-параллельные пластинки с боковым входом света (52). Глава III. Плоско-параллельные пластинки Фабри-Перо (91). РАЗДЕЛ II. ИСТОЧНИКИ СВЕТА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЙ СО СПЕКТРОСКОПАМИ ВЫСОКОЙ РАЗРЕШАЮЩЕЙ СИЛЫ. ОБЛАСТИ ПРИМЕНЕНИЯ Глава IV. Ширина спектральных линий (135). Глава V. Источники света для исследований со спектроскопами высокой разрешающей силы (176). Глава VI. Области применения спектроскопов высокой разрешающей силы (218). ПРИЛОЖЕНИЯ: Приложение 1. Дифракция Фраунгофера на прямоугольном и круглом отверстии (236). Приложение 2. Изготовление полупрозрачных зеркал для интерферометров Фабри-Перо методом испарения и вакууме (258). Приложение 3. Разрешение линий неравной интенсивности эталоном Фабри-Перо (265). Приложение 4. Фактор контрастности эталона Фабри-Перо (269). Приложение 5. Многослойные диэлектрические пленки в качестве зеркал для эталонов Фабри-Перо (271). Приложение 6. Методы регистрации интерференционной картины и обработки интерферограмм (273). Литература (276). Аннотация издательства: В предлагаемой монографии освещена теория н практика спектроскопии высокой разрешающей силы. При изложении теоретических вопросов автор базируется на развитой им теории, полностью учитывающей явления дифракции в интерференционных приборах. В книге дается теория ступенчатой решетки, плоскопараллельных пластинок, сложных интерферометров и их применения. Освещены вопросы ширины спектральных линий, а также вопросы, связанные с теорией и практикой источников света для спектроскопии высокой разрешающей силы. Кратко обрисованы основные области применения. Книга предназначается для научных работников, аспирантов и студентов старших курсов физических факультетов университетов.