М.: Мир, 1971. - 256 стр.
УДК. 537.533.35
Книга посвящена вопросам получения и интерпретации электронограмм и написана как практическое руководство без детального рассмотрения теоретических положений. Описаны особенности электронограмм от тонких монокристаллических и поликристаллических объектов, подробно проанализированы ошибки, возможные при определении по электронограммам межплоскостных расстояний, рассмотрены эффекты, возникающие на сложных электронограммах из-за наличия упорядоченных фаз, выделений малых размеров, двойников, и т. д., указаны приемы получения микроэлектронограмм, обеспечивающие наибольшую точность соответствия дифракционной картины выбранному на объекте участку и точность производимых при расшифровке измерений расстояний и углов. Приведен большой справочный материал: таблицы межплоскостных расстояний и углов, стереографические проекции для металлов и соединений с различной кристаллической структурой.
Книга предназначена для научных работников и инженеров, применяющих электронную микроскопию для исследования металлов, а также преподавателей и студентов.
