Интегральное радиационное изменение параметров полупроводниковых материалов

This document was uploaded by one of our users. The uploader already confirmed that they had the permission to publish it. If you are author/publisher or own the copyright of this documents, please report to us by using this DMCA report form.

Simply click on the Download Book button.

Yes, Book downloads on Ebookily are 100% Free.

Sometimes the book is free on Amazon As well, so go ahead and hit "Search on Amazon"

М.: Научно-образовательный центр Московского региона в области фундаментальных проблем радиационной физики твердого тела и радиационного материаловедения. Московский государственный институт электроники и математики, 1998. - 94 с.
Основным содержанием учебного пособия является рассмотрение вопросов взаимодействия основных видов радиации с твердым телом. Рассматриваются структуры конкретных точечных и групповых радиационных дефектов в кремнии, германии и арсениде галлия; рассматриваются теоретические предпосылки для расчетов изменения основных электро-физических параметров полупроводников; дается сводка имеющихся эмпирических зависимостей основных параметров полупроводников от интегрального потока облучения различными видами радиационного воздействия. Изложенный в настоящем пособии материал является базовым для дальнейшего изучения радиационных эффектов в различных изделиях электронной техники и оценки реакции радиоэлектронной аппаратуры на воздействие проникающей радиации.
Содержание
Введение
Взаимодействие основных видов радиации с твердым телом
Краткая характеристика взаимодействия излучения с веществом
Основные понятия
Взаимодействие нейтронов с веществом
Взаимодействие протонов с веществом
Взаимодействие электронов с веществом
Взаимодействие гамма- и рентгеновского излучения с веществом
Ионизационные потери энергии заряженных частиц
Смещение атомов в твердых телах при воздействии излучений
Пороговая энергия смещения атома из узла кристаллической решетки
Создание первичных смещений
Создание вторичных смещений
Пороговая энергия ионизации
Каскадная функция
Оценка полного количества смещений при различных видах излучений
Распределение дефектов при различных видах облучения Возникновение примесных атомов в материалах за счет ядерных
реакций
Реальная структура радиационных дефектов в кристаллах
Структурные комплексы в кремнии, образующиеся с участием вакансий
Структурные преобразования в облученном кремнии с участием междоузельных атомов
Проявление примеси
Аннигиляция вакансий и междоузолий и отжиг радиационных дефектов
Групповые радиационные дефекты (разупорядоченные области)
Радиационные дефекты в арсениде галлия и германии
Изменение параметров полупроводниковых материалов при облучении, создающем точечные дефекты
Изменение концентрации основных носителей заряда в кремнии n-типа при облучении
Влияние облучения на концентрацию свободных носителей в кремнии p-типа
Влияние облучения на подвижность свободных носителей заряда в кремнии
Влияние облучения на время жизни неравновесных носителей заряда
Влияние скопления дефектов на электрофизические параметры полупроводников
Влияние кислорода на изменение концентрации электронов
Изменение подвижности в материале, содержащем разупорядоченные области
Влияние разупорядоченных областей на время жизни неосновных носителей заряда
Релаксационные процессы в полупроводниковых материалах при импульсном облучении
Интегральное радиационное изменение параметров полупроводниковых материалов
Радиационное изменение концентрации свободных носителей
Изменение концентрации основных носителей заряда в кремнии
Радиационное изменение концентрации основных носителей в арсениде галлия
Радиационное изменение концентрации основных носителей в германии
Радиационные изменения подвижности основных носителей заряда
Изменение подвижности в кремнии
Изменение подвижности в арсениде галлия
Изменение подвижности в германии
Изменение времени жизни неравновесных носителей заряда при облучении
Облучение кремния электронами с энергией Eе = 1 МэВ
Облучение «тянутого» кремния протонами с энергией Ep = 10 МэВ
Литература

Author(s): Вологдин Э.Н., Лысенко А.П.

Language: Russian
Commentary: 426009
Tags: Приборостроение;Полупроводниковые приборы;Интегральные схемы