Учеб. пособие – Харьков НТУ "ХПИ", 2006. - 304 с.
Пособие содержит основные сведения о дифракции рентгеновских лучей на кристаллах и применении методов структурного анализа для исследования остаточных макронапряжений в поверхностных слоях массивных материалов и тонких пленках. Излагается метод наклонных съемок (синус квадрат пси - метод) и его развитие для изучения напряженного состояния в текстурированных и монокристаллических образцах.Содержание
Природа остаточных внутренних напряжений
Элементы теории упругости. Обобщенный закон Гука
Термодинамика процессов деформирования твердого тела
Основные положения взаимодействия рентгеновских лучей с веществом
Рентгеновские методы измерения остаточных макронапряжений
Основы электронографической тензометрии
Анализ ошибок при использовании рентгенодифрактометрических методик
для измерения остаточных макронапряжений
