СПб: СПбГУ ИТМО, 2009. – 115 с.Описан новый поляризационно-оптического микроскоп, в схеме которого в контакте с объектом помещен слой жидкого кристалла, что позволило визуализировать распределение невидимых физических полей на поверхности изучаемого объекта. Разработана теория визуализации дефектов микрорельефа, структурных дефектов, а также неоднородных электрических и магнитных полей. Приведены результаты экспериментальных исследований с помощью микроскопа объектов материаловедения, медицины и биологии. Разработанные методы изучения поверхности обладают новизной, универсальностью, уникальностью, экспрессивностью, высокой чувствительностью, разрешающей способностью и не требуют разработки нового оборудования.
Методические рекомендации адресованы научным сотрудникам, работающим в областях микроскопии и изучении поверхности, а также студентам и аспирантам, обучающихся в области материаловедения, оптики и фотоники.
