product iamge

Методика испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам

This document was uploaded by one of our users. The uploader already confirmed that they had the permission to publish it. If you are author/publisher or own the copyright of this documents, please report to us by using this DMCA report form.

Download
Search on Amazon

Simply click on the Download Book button.

Yes, Book downloads on Ebookily are 100% Free.

Sometimes the book is free on Amazon As well, so go ahead and hit "Search on Amazon"

В.Ф.Алексеев, Н.И.Силков, Г.А.Пискун, А.Н.Пикулик // Доклады БГУИР. – 2011. – №5(59). – с. 5-11.
Экспериментально исследовано воздействие электростатических разрядов на микроконтроллеры типа AT89C51RC. Установлено, что накопленный заряд статического электричества, равный 6,5 кВ, приведет к катастрофическому отказу 100 % микроконтроллеров. Предложена упрощенная методика проведения испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам.

Author(s): Алексеев В.Ф.

Language: Russian
Commentary: 668900
Tags: Библиотека;Компьютерная литература;Микроконтроллеры