В книге на основе современных физических представлений рассмотрены
вопросы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем.
Значительное внимание уделено влиянию различных технологических факто-
ров и условий применения на надежность. Подробно рассмотрены дефекты,
возникающие в исходных материалах, и механизмы отказов полупроводни-
ковых приборов и интегральных микросхем. Изложены методы обеспечения
их надежной работы в различной радиоэлектронной аппаратуре.
Книга рассчитана на инженерно-технических работников, занимающихся
производством полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и их
применением. Она будет полезна студентам старших курсов соответствующих
специальностей.
