М.: МИСиС, 2007. - 60 с.Рассмотрены методы исследования нанодисперсных материалов с помощью рентгеновской дифрактометрии. В ходе изложения теоретических основ каждого из методов отмечены особенности рентгенограмм, которые встречаются при изучении наносред. Описанные аномалии проиллюстрированы экспериментальными данными. Учебное пособие написано в соответствии с учебным планом по курсам «Ультрадисперсные среды», «Физико-химия наноструктурированных материалов».
Предназначено для студентов, обучающихся по специальностям «Физико-химия процессов и материалов», «Наноматериалы», «Стандартизация и сертификация», «Металловедение и термическая обработка металлов», «Порошковая металлургия, композиционные материалы, покрытия», направлению «Физика», а также студентов других специальностей, преподавателей, аспирантов и слушателей курсов повышения квалификации.
