В.Ф. Кулешов, Ю.А. Кухаренко, С.А. Фридрихов и др.— М.: Наука, 1985 — 290 с.
В книге рассмотрены вопросы теории и применения современных методов исследования состояния поверхности, основанных на использовании электронных пучков. Подробно описаны особенности следующих методов: характеристических потерь энергии при отражении электронов от поверхности твердых тел; электронной оже-спектроскопии; дифракции медленных электронов; дифракции быстрых электронов на отражение. Изложены основные теоретические закономерности упругого и неупругого взаимодействия электронов с веществом и различные экспериментальные методы исследования поверхности твердого тела.
Издание предназначено для широкого круга инженеров и научных сотрудников, занимающихся проблемами физики и химии поверхности твердых тел и электронной спектроскопии поверхности.
