Пер. с англ./Под ред. В.Н. Рожанского. М., Наука, Гл. ред. физ.-мат. лит. 1986. - 320 с.
Изложены теоретические и экспериментальные аспекты электронной микроскопии высокого разрешения. Рассмотрены физические основы формирования электронно-микроскопического изображения как периодических (кристаллические структуры), так и непериодических (отдельные молекулы и атомы) объектов, и влияние различных факторов на его разрешение.
Для научных сотрудников, инженеров, аспирантов и студентов, специализирующихся в области изучения тонкой структуры различных объектов.
