Новосибирск: Институт катализа СО РАН, 2009. – 35 с. («Наноструктурный анализ веществ и материалов»)
Краткий обзор основ теории и практики метода малоуглового рентгеновского рассеяния (МУРР) позволяет получить навыки проведения научных анализов с использованием экспериментальных данных МУРР от реальных образцов наносистем и современных материалов с целью определения значений их структурных и дисперсных характеристик. Приведен обзор типов малоугловых рентгеновских дифрактометров, выпускаемых фирмами-изготовителями с более детальным описанием устройства и принципа работы одного из современных малоугловых рентгеновских дифрактометров - прибора S3-MICRO (фирмы Hecus, Австрия).
Обзор рассчитан на студентов, аспирантов и специалистов по использованию физико-химических методов исследований различных веществ и функциональных материалов, содержащих неоднородности электронной плотности нанометрового диапазона размеров.
