Вторая конференция по физико-химическим основам легирования полупроводниковых материалов. Тезисы докладов. г. Москва, 23-25 октября 1972 г

This document was uploaded by one of our users. The uploader already confirmed that they had the permission to publish it. If you are author/publisher or own the copyright of this documents, please report to us by using this DMCA report form.

Simply click on the Download Book button.

Yes, Book downloads on Ebookily are 100% Free.

Sometimes the book is free on Amazon As well, so go ahead and hit "Search on Amazon"

М.: ИМЕТ, 1972. — 180 с.
СОДЕРЖАНИЕ
Аверкина Г.К., Прочухан В.Д., Рудь Ю.В., Таштанова М. Выращивание и легирование монокристаллов ZnSiAs2//
Виноградова К.И., Ивлева В.С., Наследов Д.Н., Сметанникова Ю.С.,Ташкоджаев Т.К. Гальваномагнитные свойства антимонида индия легированного переходными элементами группы железа//
Григорьева В.С., Прочухан В.Д., Рудь Ю.В., Яковенко А.А. О легировании полупроводникового соединения ZnGeP2//
Ильченко Л.Н., Миргаловская М.С., Комова Э. М., Раухман М.Р., Стрельникова И.А., Сорокина Н.Т. Край полосы поглощения кристаллов ZnSb и GaSb сильно легированных теллуром и цинком//
Алтайский Ю.М., Сидякин В.Г., Подласов С.А. Исследования электрофизических свойств карбида кремния кубической модификации//
Мартныов В.М., Волкова Л.В., Менцер А.Н., Киреев П.С. Влияние меди на электрофизические оптические и фотоэлектрические свойства селенида кадмия//
Арифов У.А., Кулагин А.И., Мирсагатов Ш.А., Морозкин В.В., Садыков Р.А.,Чирва В.П. О донорных свойствах кислорода введенного в карбид кремния ионным легированием//
Кондауров Н.М., Корницкий А.Г., Киреев П.С., Супалов В.А. Примесная люминесценция в селениде кадмия//
Пташинский В.В., Загорянская Е.В., Киреев П.С. Роль примесных состояний в энергетическом спектре теллурида ртути//
Ерасова Н.А., Ефимова Б.А., Захарюгина Г.Ф., Кайданов В.И., Калашникова Т.Н. Примесный уровень индия в некоторых растворах на основе теллурида свинца//
Ибрагимова П.Г., Керимов И.Г., Рустамов А .Г., Валиев Л.М., Бабаев С.Х. Синтез и исследования электрических и гальваномагнитных свойств соединений CuFe2Te4//
Маренкин С.Ф., Лазарев В.Б., Шевченко В.Я., Воробьйов В.Д., Джабарова Н.К., Каплин А.А, Изучения растворимости лития в Cd3As2//
Латипов З.М., Зломанов В.П., Савельев В.П. Об особенностях кристаллизации PbSe в системе Pb-Sn-Se и некоторые физические свойства полученных твердых растворов (PbSe)
Белоцкий Д.П., Махова М.К., Дундич М.С. Растворимость некоторых елементов IV и V груп в монокристаллическом CdSb//
Панчук О.Э., Грыцив В.И., Щербак Л.П., Фейчук П.И., Белоцкий Д.П. Особенности распределения серебра, индия и олова в теллуриде кадмия//
Исаев-Иванов В.В., Колчанова Н.М., Мастеров В.Ф., Наследов Д.Н., Талалакин Г.Н. О возможных состояниях примеси железа в кристаллах арсенида галлия//
Миргаловская М.С., Комова Э.М., Ильченко Л.Н. Влияние индия на основные свойства антимонида галлия//
Миргаловская М.С., Ильченко Л.Н. Предельные коцентрации электронов в сильно легированных соединений AIIIBV и их связь с зонной структурой этих соединений//
Болтакс Б.И., Сагатов М.А., Серёгин П.П. Исследования методом ядерного гамма-резонанса полупроводниковых соединений A3B5 легированных теллуром//
Кузнецов Г.М., Пелевин О.В., Оленин В.В., Барсуков А.Д. Исследования твердых растворов селена и теллура в арсениде галлия//
Емельяненко О.В.,Колчанов Н.М., Наследов Д.Н., Раду Р.К., Талалакин Г.Н. Арсенид галлия с примесью олова полученный жидкостной эпитаксией//
Кревс В.Е., Лопатинский И.Е., Пашковский М.В.,Чеджемова И.Л. Особенности легирования HgSe медью//
Абрикосов Н.Х.,Данилова-Добрякова Г.Т. Исследования области твердого раствора индия в теллуриде германия//
Рогачева Е.И., Гальчинецкий О твердых растворах на основе моннотеллурида германия//
Близнюк Г.С., Лев Е.Я., Сисоева Л.М., Коломоец Н.В. Некоторые особенности твердых растворов замещения на основе теллурида германия//
Линский В.А.,Гобачев В.В., Садовская О.А., Александров Ю.А., Путилин И.М. Исследования легирования неодимом сульфотеллурида меди//
Усков В.А. Перераспределение примесей в полупроводниках под действием локального электрического поля при диффузии двух компонентов одинакового знака//
Усков В.А., Сорвина В.П. Диффузия и растворимость железа в арсениде галлия легирования цинком//
Орлов А.М., Пархоменко В.И. Электродиффузия легирующих примесей в монокристаллах элементарных и сложных полупроводников//
Воробкало Ф.М.,Глинчук К.Д.,Прохорович А.В. Диффузия и природа излучательных центров в арсениде галлия//
Окунев В.Д., Быковский А.Н., Лебедева Л.В., Захаров Б.Г. Распределения меди при высокотемпературной диффузии в арсенид галлия//
Новикова Л.П., Стафеев В.И., Русин Б.А. Исследования дефектов возникающих в арсениде индия при диффузии кадмия//
Акулова Г.В., Максимов С.К., Шкуропат И.Г. О некоторых дефектах кристаллической структуры инициированных диффузией примесей//
Ильченко Л.Н., Миргаловская М.С., Комова Э.М., Стрельникова И.А. Оптические свойства антимонида галлия легированного теллуром//
Григонис А., Домкус М., Праневичюс Л. Управление термическим легированием изменением условий на поверхности//
Стромберг А Г., Каплин А.А. Применение метода амальгамной и пленочной полярографии в анализе легированных кристаллов//
Эккерман В.М., Гегеузин Я.Е., Гальчинецкий Л.П., Кошкин В.М. Самодифузия в In2Te3//
Конозенко И.Д., Демидова Г.Н. Особенности выпадения примеси с градиентом начальной концентрации из пересыщенного раствора//
Фистуль В.И., Гринштейн П.М. Новый метод исследования кинетики физико-химических процессов в полупроводниках//
Гришина С.П., Каратаев В.В., Мильвидский М.Г., Немцова Г.А., Освенский В.Б., Прошко Г.П. Влияние тепловых условий выращивания на физические свойства сильно легированных теллуром монокристаллов арсенида галлия//
Моргулис Л.М., Мильвидский М.Г., Освоенский В.Б. Влияние термообработки на структуру монокристаллов GaAs легированного Te//
Гришина С.П., Грекова С.Н., Куликова Л.В., Мильвидский М.Г., Освенский В.Б., Прошко Г.П., Фомина В.А., Шершакова И.Н. Влияние термообработки на физические свойства GaAs легированного амфотерными примесями//
Хийе Я.В., Мелликов Э.Я., Бузмакова И.М. Влияние кислорода на некоторые электрофизические и оптические свойства сульфида кадмия//
Новикова Л.П., Стафеев В.И., Ильина Т.В. Исследования структурных особенностей возникающих в арсениде индия при термообработке//
Войткив В.В., Гайдучок Г.М., Фреик Д.М., Фреик Л.И. Изучение процессов старения твердых растворов на основе халькогенидов свинца р-и п-типа//
Хийе Я.В., Мелликов Э.Я., Бузмакова И.М. Вакуумный отжиг порошкообразного селенида кадмия для получения материала постоянного состава//
Ибрагимов Б.Б., Эйвазов Э.А., Рустамов А.Г., Гашимов Г.И. Влияние термообработки на электрические свойства шпинельной системы Fe1-xCuxCr2S4//
Олексеюк И.Д., Ворошилов Ю.В., Головей М.И. Некоторые электрические и структурные свойства кристаллов твердых растворов системы(Zn3As2)-(ZnTe) в области небольших концентраций теллурида цинка//
Лаврентьева Л.Г., Вилисова М.Д., Ивонин И.В., Катаев Ю.Г., Красильникова Л.М., Румянцев Ю.М., Шумков А.Д., Якубеня М.П. Влияние особенностей кинетики роста эпитаксиальных слоев на захват примеси//
Лаврентьева Л.Г., Порховниченко Л.П., Нестерюк Л.Г., Тымчишин П.Н. Анизотропия легированных слоев GaAs примесями II и VI групп//
Тен В.П., Кулиш У.М. Зависимость скорости роста и уровня легирования пленок n-GaAs от ориентации подложек (жидкостная эпитаксия)//
Кулиш У.М. Влияние ориентации подложек на свойства пленок GaAs InxGa1-xAs и AlxGa1-xAs полученных жидкостной эпитаксией//
Кулиш У.М., Тен В.П. Свойства пленок арсенида галлия выращенных из раствора на подложках с различными ориентациями//
Сидоров Ю.Г., Васильева Л.Ф., Аграфенин Ю.В., Миотковский И. Особенности поведения олова и серы при легировании слоев арсенида галлия в газотранспортном методе//
Пикалев А.П., Мерзляков А.В., Ожегов П.И., Жемчужина Е.А., Полистанский Ю.Г. Исследование процесса легирования теллурида свинца из парогазовой фазы//
Шубина В.В., Стрельченко С.С., Лебедев В.В. К термодинамике процесса легирования эпитаксиальных слоев арсенида галлия теллуром//
Базакуца В.А., Мохов Г.Д., Ежик И.И. Легирование тонких пленок аморфного селена в парах ртути//
Болховитянов Ю.Б., Болховитянова Р.И., Мельников П.Л., Юдаев В.И. Использование методики эпитаксии пленок арсенида галлия из тонкого слоя раствора находящегося между подложками для изучения их легирования//
Грейсух М.Р. Неравновесый захват примеси при кристаллизации полупроводников//
Иванов В.В., Шуригин П.М., Марбах А.Л. Легирование арсенида индия при плавке под слоем флюса//
Марбах А.Л., Денисов В.М., Шурыгин П.М., Бузовкин В.П. Исследования процессов легирования теллурида свинца под слоем флюсов//
Гантимуров А.К., Марбах А.Л., Грехов Ю.Н. Легирование полупроводникового типа A5B6 термическим разложением под слоем флюса//
Гантимуров А.К., Грехов Ю.Н. Легирование полупроводников типа A5B6 и твердых растворов на их основе под слоем флюса при зонной плавке и методе Чохральского//
Орлов А.М., Шурыгин П.М., Лебедев Ю.И., Автушко В.И. Кристаллизация полупроводниковых материалов в электрическом поле//
Косов А.В., Бузовкина Н.В. Роль примесей в механизме образования слоистой неоднородности при выращивании кристаллов арсенида галлия//
Абрикосов Н.Х., Лаптев А.В., Миргаловская М.С., Раухман М.Р. Исследования некоторых гальваномагнитных свойств InSb р-типа с эффектом грани//
Грейсух М.Р., Каримов Р.Х. Влияние некоторых характеристик примеси на интенсивность канальной неоднородности//
Вахобов А.В. К расчету эффективного коэффициента распределения примесей при кристаллизационных методах очистки//
Освенский В.Б., Шифрин С.С., Мильвидский М.Г., Корчажкина Р.Л. Влияние легирующих примесей на образования и динамическое поведение дислокации в полупроводниках при высоких температурах//
Освенский В.Б., Холодный Л.П., Мильвидский М.Г. Влияние заряженных примесей в арсениде галлия на скорость движения дислокаций лимитируемого пайерлсовским механизмом//
Моргулис Л.М., Мильвидский М.Г., Освенский В.Б., Гришина С.П., Шерщакова И.Н. Электронно-микроскопическое исследование структуры монокристаллов GaAs легирования элементами IV группы//
Гришина С.П., Мильвидский М.Г., Моргулис Л.М., Освенский В.Б., Шершакова И.Н., Шифрин С.С. Тонкая структура монокристаллов GaAs легированного элементами IV группы выявляемая при химическом травлении//
Блашку А.И., Болтакс Б.И., Джафаров Т.Д. Влияние неравновесных вакансий на диффузию цинка и меди в арсениде галлия//
Зелевинская В.М., Качурин Г.А. Образования комплексов примесь--дефект при легировании арсенида галлия внедрением ионов S Se и Te//
Нирк Т.Б., Варвас Ю.А. Взаимодействие собственных дефектов с электрически активными примесями в монокристаллах CdSe//
Лотт К.П., Варвас Ю.А. Собственый донорый дефект и донорные примеси в ZnS//
Пташинский В.В., Киреев П.С., Иноземцев К.И., Фадин В.К., Фигуровский Е.Н., Евсеев Ю.В. Влияние примесей на свойства теллурида ртути//
Уфимцев В.Б., Вигдорович В.Н. Взаимодействие компонентов и коэффициенты распределения примесей в полупроводниках//
Егоркин В.В., Крестовников А.Н., Миргаловская М.С., Раухман М.Р., Уфимцев В.Б., Сорокина Н.Г. О поведении цинка в антимониде индия по результатам исследования термодинамических свойств жидких и твердых растворов InSb-Zn//
Абдукаримов Э.Т.,Орлов А.Г., Романенко В.Н., Сидоров А.Ф. Изучение физико-химических процессов происходящих при кристаллизации легированного теллурида висмута//
Дашевский М.Я., Колобродов Л.Н., Костиков В.И., Мельников В.С., Белоусов В.Т., Лившиц Е.А., Ковальчук Л.В. Исследование сильнолегированных монокристаллов антимонида индия и арсенида галлия//
Сидорова А.В., Сидоров Ю.Г. Расчет равновесных концентраций примесей при легировании эпитаксиальных слоев полупроводников//
Каратаев В.В., Мильвидский М.Г., Моргулис Л.М., Немцова Г.А., Соловьева Е.В. Влияние отклонения состава расплава от стехиометрии при выращивании на физические свойства арсенида галлия легированного германием//
Борисова Л.А., Колесов Б.А., Аккерман Э.Л.,Ерофеева Н.А. О легировании арсенида галлия кремнием из расплава//
Миргаловский М.С., Стрельникова И.А., Юнович А.Э. Кристаллы твердых растворов системы GaSb-ZnSb легированных Zn и Te//
Волков А.С., Галаванов В.В.,Саимкулов З.А. Легирование эпитаксиальных слоев антимонида индия теллуром и селеном//
Романенко В.Н., Хейфец В.С. Применение процессов жидкостной эпитаксии для анализа диаграмм состояния на примере систем Ga-Al-As-примесь//
Абрикосов Н.Х., Иванова Л.Д. Исследование легированных кристаллов высшего силицида марганца//
Задворный Л.И. О разработке высокотемпературных полупроводниковых материалов на основе силицидов переходных металлов//
Хабаров Э.Н. Твердые растворы типа A3B5-A2B6//
Рязанцев А.А., Семиколенова Н.А., Скоробагатова Л.А., Хабаров Э.Н. Взаимодействие примесей донорного и акцепторного типа в системах ZnAs-CdTe и InSb-CdTe со стороны соединений A3B5//
Скоробогатова Л.А., Финогенова В.К., Рязанцев А.А., Хабаров Э.Н. T-x-фазовая диаграмма системы InSb-CdTe//
Глазов В.М., Киселев А.И., Нагиев В.А. Анализ донорно-акцепторного взаимодействия между легирующими элементами типа AII и BVI в твердых растворах на основе соединений AIIIBV//
Глазов В.М., Нагиев В.А., Рзаев Ф.Р. Легирование фосфида индия элементами донорного и акцепторного типа//
Белая А.Д., Земсков В.С., Свечникова Т.Е. Взаимодействие между цинком и теллуром при росте кристаллов легированного антимонида индия//
Угличина Г.Н., Уфимцев В.Б., Шумилин В.П., Исследование фазовых равновесий в системе арсенид индия-теллур//
Белая А.Д., Земсков В.С. Коэффициент распределения теллура в антимониде индия//
Лакеенков В.М., Мильвидский М.Г., Пелевин О.В., Уфимцев Э.В. Жидкостная эпитаксия твердого раствора A3B5-A2-B6 в связи с диаграммой состояния системы A2-A3-B5-B6//
Пелевин О.В., Мильвидский М.Г., Гирич Б.Г., Николаев М.И. Поведение легирующих примесей при жидкофазной эпитаксии арсенида галлия//
Пантелеев В.А., Рудой Н.Е. К вопросу о зависимости между концентрациями доноров и акцепторов при образовании твердых растворов в тройных системах полупроводник-акцептор-донор//
Саидов М.С. К молекулярно-статистической теории совместного распределения примесей в полупроводниках//
Саидов М.С., Шукуров И. Исследование влияния третьего компонента на фазовое равновесие олово-кремний//
Губенко А.Я. Зависимость коэффициента распределения примесей от уровня легирования и условий выращивания//

Language: Russian
Commentary: 1898888
Tags: Химия и химическая промышленность;Материалы конференций, симпозиумов, съездов