product iamge

Мир физики и техники. Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения

This document was uploaded by one of our users. The uploader already confirmed that they had the permission to publish it. If you are author/publisher or own the copyright of this documents, please report to us by using this DMCA report form.

Download
Search on Amazon

Simply click on the Download Book button.

Yes, Book downloads on Ebookily are 100% Free.

Sometimes the book is free on Amazon As well, so go ahead and hit "Search on Amazon"

М.: Техносфера, 2009. — 208 с. — ISBN 978-5-94836-200-7.
Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. В качестве учебного пособия книга предназначена для инженеров, студентов и обучающихся по специальностям, связанным с машиностроением и материаловедением.

Author(s): Криштал М.М., Ясников И.С. и др.

Language: Russian
Commentary: 1511062
Tags: Физика;Практикумы, экспериментальная физика и физические методы исследования