Пер. с англ. — Москва: Металлургия, 1966. — 215 с.В книге изложены основные принципы рентгеноспектрального анализа, подробно рассмотрены типичные микроанализаторы и методики количественного анализа в микрообъемах вещества для исследования металлов и сплавов.Рентгеновский микроанализ позволяет определять состав в микрообъемах, а также получать сведения о распределении того или иного элемента по поверхности без разрушения образца. В книге собраны все последние зарубежные достижения в области разработки и применения рентгеновских микроанализаторов.
Книга предназначается для инженерно-технических работников заводских лабораторий, научно-исследовательских и учебных институтов металлургической, машиностроительной и оборонной промышленности.От редактора русского перевода.
Предисловие.
Введение
Прибор.
Возможности определения химических элементов.
Пределы чувствительности.
История развития рентгеновского микроанализа
Рентгеновская спектроскопия.
Электронная микроскопия.
Электронный зонд.
Различные конструкции электронных зондов.
Общие вопросы, связанные с применениями электронного зонда.
Перспективы.
Электронная оптика
Вакуумная камера.
Электронная пушка.
Два принципа формирования пучка.
Электронная оптика, формирующая изображение.
Электронная оптика параллельных пучков.
Аберрация электронных линз.
Астигматизм.
Сферическая аберрация.
Кома.
Юстировка пучка.
Ток пучка.
Схема питания.
Наблюдение образца
Камера образца.
Выбор анализируемого участка.
Визуальная оптика.
Наблюдение образца в рентгеновских лучах и в электронах.
Предосторожности при получении изображений в электронах и в рентгеновских лучах.
Схемы формирования изображения.
Типы образцов и приготовление образца
Основные факторы.
Качество поверхности и травление.
Выбор участка для анализа.
Биологические образцы.
Порошкообразное вещество.
Тонкие пленки в качестве образцов.
Электропроводность.
Радиоактивные образцы.
Угол выхода рентгеновских лучен и вторичная флуоресценция.
Рентгеновская оптика
Брэгговское отражение.
Параметры кристалла.
Оптика изогнутого кристалла.
Перпендикулярная расходимость в случае цилиндрической оптики.
Нешлифованные кристаллы.
Квазифокусирующая оптика.
Интенсивности линии и фона.
Детекторы и энергетическая дисперсия
Детекторы.
Энергетическая дисперсия.
Объединение волновой и энергетической дисперсий.
Электронные схемы.
Вывод уравнений для относительной интенсивности рентгеновских лучей
Факторы, влияющие на зависимость интенсивности рентгеновского излучения от состава образца.
Возбуждение рентгеновского излучения как функция глубины проникновения электронов в образец.
Расчет интенсивности рентгеновского излучения (поправка только на поглощение).
Усиление основой.
Возможность зависимости Ф(рх) от атомного номера.
Влияние угла выхода рентгеновских лучей.
Количественный анализ и связанные с ним вопросы
Стандарт сравнения, подобный исследуемому образцу.
Полуколичественный анализ при известном качественном составе исследуемого образца.
Образцы неизвестного состава.
Полная интенсивность рентгеновских лучей.
Отношение линия/фон.
Влияние вторичной флуоресценции.
Количественный анализ в отраженных электронах или по собранным электронам.
Примеры применений
Классификация применений.
Идентификация %- и сг-фаз в нержавеющей стали.
Пигменты в красителях.
Инородное вещество в электронных устройствах.
Идентификация коррозионных слоев.
Различные примеры.
Диффузия на границах зерен.
Бинарная и тройная диффузия.
Побочные реакции [11].
Колебания кальция в срезах костей.
Толщина пленок и состав.
Предполагаемые применения.
Различные применения, описанные в литературе.
Заключение.
Перспективы и близкие методы
Элементы с небольшим атомным номером.
Экономичный электронный зонд.
Рентгеновская микроскопия.
Дифракция электронов и рентгеновских лучей.
Картины, получающиеся в расходящемся пучке.
Приборы с ионным пучком.
Приложения
Эффективность возбуждения.
Функция интенсивности F.
Массовые коэффициенты поглощения.
Энергия возбуждения для К-, L- и М-серий.
Длины волн характеристических линий К-, L- и М-серий.
Множитель рх.
Межплоскостные расстояния для кристаллов, обычно используемых в спектрометрах.
Дополнительная литература
