Исследование параметров и характеристик пп приборов с применением интернет-технологий

This document was uploaded by one of our users. The uploader already confirmed that they had the permission to publish it. If you are author/publisher or own the copyright of this documents, please report to us by using this DMCA report form.

Simply click on the Download Book button.

Yes, Book downloads on Ebookily are 100% Free.

Sometimes the book is free on Amazon As well, so go ahead and hit "Search on Amazon"

В книге рассмотрены задачи, методы и особенности автоматизированного лабораторного практикума с удаленным доступом (АЛП УД) по исследованию полупроводниковых приборов, приведено описание реализующей его системы АЛП УД «Электроника», в том числе входящего в ее состав аппаратно-программного комплекса (АПК) «Электроника», разработанного на основе технологии корпорации National Instruments в региональном инновационном центре «Центр технологий National Instruments» при ФГОУ ВПО «Сибирский федеральный университет». Приведены задания и методические указания к лабораторным работам по экспериментальному исследованию и моделированию полупроводниковых диодов, стабилитронов, полевых и биполярных транзисторов, включающие измерение их вольт-амперных характеристик и параметров, исследование технологического разброса и работы на переменном токе. Издание предназначено для студентов и учащихся технических специальностей вузов, колледжей, профессиональных училищ и лицеев для использования в лабораторном практикуме дисциплины «Электроника» и других родственных дисциплин, выполняемом на базе сетевой лаборатории Сибирского федерального округа с помощью АПК УД «Электроника». Учебное пособие подготовлено в рамках выполнения инновационной образовательной программы по направлению «Информатизация и автоматизированные системы управления», реализуемой в ФГОУ ВПО СФУв 2007 г. На прилагаемом к книге DVD-ROM находятся интерактивное электронное техническое руководство к АПК УД «Электроника»; демо-версия системы OrCAD 9.1; файлы проектов для математического моделирования полупроводниковых приборов; система компьютерной проверки знаний тестированием с примерами тестовых заданий; 30-дневная версия Lab VIEW 8.5; примеры виртуальных приборов.

Author(s): Глинченко A.С., Егоров Н.М., Комаров B.А., Сарафанов А.В.
Publisher: ДМК Пресс
Year: 2008

Language: Russian
Commentary: +OCR
Pages: 354
City: Москва