Silizium-Halbleitertechnologie: Grundlagen mikroelektronischer Integrationstechnik

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Grundlage der mikroelektronischen Integrationstechnik ist die Silizium-Halbleitertechnologie. Sie setzt sich aus einer Vielzahl von sich wiederholenden Einzelprozessen zusammen, deren Durchführung und apparative Ausstattung extremen Anforderungen genügen müssen, um die geforderten Strukturgrößen bis zu wenigen 10 nm gleichmäßig und reproduzierbar zu erzeugen. Das Zusammenspiel der Oxidationen, Ätzschritte und Implantationen zur Herstellung von MOS- und Bipolarschaltungen werden - ausgehend vom Rohsilizium bis zur gekapselten integrierten Schaltung - aus Sicht des Anwenders erläutert. Das Lehrbuch behandelt neben den Grundlagen auch die technische Durchführung der Einzelprozesse zur Integrationstechnik.

Author(s): Ulrich Hilleringmann (auth.)
Edition: 6
Publisher: Vieweg+Teubner Verlag
Year: 2014

Language: German
Pages: 263
Tags: Electronics and Microelectronics, Instrumentation; Circuits and Systems

Front Matter....Pages I-XI
Einleitung....Pages 1-4
Herstellung von Siliziumscheiben....Pages 5-20
Oxidation des Siliziums....Pages 21-31
Lithografie....Pages 33-55
Ätztechnik....Pages 57-76
Dotiertechniken....Pages 77-98
Depositionsverfahren....Pages 99-116
Metallisierung und Kontakte....Pages 117-132
Scheibenreinigung....Pages 133-141
MOS-Technologien zur Schaltungsintegration....Pages 143-167
Erweiterungen zur Höchstintegration....Pages 169-206
Bipolar-Technologie....Pages 207-216
Montage integrierter Schaltungen....Pages 217-236
Back Matter....Pages 237-263