М.: Металлургия, 1969. — 496 с.: ил.Рассмотрена методика изучения структуры металлических сплавов и полупроводниковых материалов путем использования дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов. Даны методы рентгеновской гамма - дефектоскопии. Освещены свойства рентгеновских и гамма - лучей.
Предназначается в качестве учебного пособия для студентов вузов и может быть полезна инженерам-исследователям, работающим в области технологии металлических сплавов полупроводниковых материалов.Введение.
Физика рентгеновских лучей
Природа лучей рентгена, их преломление, дифракция.
Спектры рентгеновских лучей.
Излучение со сплошным спектром.
Характеристические лучи Рентгена.
Явления, сопровождающие прохождение рентгеновских лучей сквозь вещество.
Гамма-лучи радиоактивных элементов.
Источники рентгеновских лучей и аппараты гамма-дефектоскопии
Рентгеновские трубки и кенотроны.
Источники высокого напряжения.
Бетатрон (индукционный ускоритель); линейный ускоритель.
Установки для просвечивания у-лучами радиоактивного распада.
Детекторы рентгеновских лучей
Измерение интенсивности рентгеновского излучения при помощи счетчиков.
Фотографический метод регистрации рентгеновских лучей и измерения их интенсивности.
Структурный анализ, основные уравнения дифракции рентгеновских лучей от кристаллов и общая характеристика методов структурного анализа
Обратная решетка.
Основные уравнения дифракции рентгеновских лучей.
Характеристика основных методов рентгеноструктурного анализа.
Интенсивность интерференционных максимумов.
Элементы рентгеноанализа монокристаллов
Метод Лауэ.
Метод вращения кристалла.
Установление структуры кристалла с помощью рентгеновских лучей.
Методы рентгеноанализа поликристаллических веществ
Получение рентгенограмм поликристаллов фотометодом.
Рентгеновская дифрактометрия.
Определение межплоскостных расстояний по дебаеграммам и идентификация фаз.
Определение кристаллической структуры по рентгенограмме кристалла.
Рентгеноанализ преимущественных ориентировок (текстур)
Принципы расчета рентгенограмм текстурованных материалов.
Полюсные фигуры материалов с текстурой.
Построение полюсных фигур при помощи дифрактометра.
Построение «обратной» полюсной фигуры.
Рентгенографическое определение деформации решетки и размеров кристаллитов. Рентгеноанализ структурных изменений при нагреве деформированных кристаллических тел
Определение числа, величины и формы кристаллов.
Рассеяние рентгеновских лучей монокристаллом, испытавшим пластическую деформацию.
Рентгенографическое определение остаточных напряжений в металлах и сплавах.
Микронапряжения (напряжения II рода).
Рентгеноанализ изменений структуры деформированных кристаллических веществ при нагреве.
Рентгеноанализ сплавов
Рентгеноанализ твердых растворов.
Построение границы растворимости для двойных и тройных сплавов.
Рентгеноанализ упорядоченных твердых растворов.
Определение фазового состава сплавов.
Рентгеноанализ структурных изменений, вызываемых термической обработкой сплавов и воздействием ионизирующего излучения
Рентгеноанализ явлений, протекающих при распаде пересыщенных твердых растворов.
Рентгенографический анализ структурных изменений при закалке и отпуске стали.
Рентгенографические исследования действия облучения на структуру кристаллических веществ.
Применение дифракции электронов и дейтронов для излучения структуры сплавов
Основные принципы.
Элементы электронографии и ее применения.
Нейтронография и ее применение.
Основные принципы рентгеноспектрального анализа
Аппаратура для рентгеноспектрального анализа.
Качественный и количественный рентгеноспектральный анализ. Многоканальные рентгеновские спектрометры (квантометры).
Рентгеноспектральный анализ в микрообъемах.
Радиационная дефектоскопия
Общие положения.
Рентгеновская дефектоскопия с фоторегистрацией лучей.
Гамма-дефектоскопия с фотографической регистрацией лучей.
Использование электромагнитного излучения бетатрона и линейного ускорителя.
Рентгеноскопия — просвечивание рентгеновскими лучами.
Основная литература
Приложения
Защита от воздействия рентгеновских и гамма-лучей
Справочные таблицы
