Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля

This document was uploaded by one of our users. The uploader already confirmed that they had the permission to publish it. If you are author/publisher or own the copyright of this documents, please report to us by using this DMCA report form.

Simply click on the Download Book button.

Yes, Book downloads on Ebookily are 100% Free.

Sometimes the book is free on Amazon As well, so go ahead and hit "Search on Amazon"

Первый учебник на русском языке по современным методам исследования и материаловедения. Описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров, студентов. (реклама в файл не вставлена, поэтому страниц не 384, а 377)

Author(s): Д. Брандон, У. Каплан
Publisher: Техносфера
Year: 2004

Language: Russian
Commentary: +OCR
Pages: 380