М.: Энергоатомиздат, 1991. - 200 с.
ISBN 5-283.02924-7Рассмотрено применение метода статистических испытаний (метода Монте-Карло) к проблеме переноса заряженных частиц и вторичных излучении в веществе. Сопоставлены различные вычислительные схемы теории переноса. Рассмотрены методы расчета согласованной с экспериментальными данными исходной информации (сечений элементарных процессов, функций распределения в многократном рассеянии н др.). используемой в вычислительных экспериментах. Обсуждены способы организации пакетов прикладных программ для ЭВМ. Приведен обширный справочный материал по сечениям элементарных процессов и различным вычислительным алгоритмам, используемым в расчетах.
Для научных работников и инженеров в области физики зашиты от излучений и дозиметрии, радиационной физики, электронно-ионной лучевой технологии, вычислительной физики.Оглавление.
Основные обозначения и константы.
Предисловие.
Введение.
Процессы взаимодействия электронов и ионов с веществом.
Математические модели теории переноса частиц в веществе.
Моделирование траекторий электронов (позитронов) в веществе.
Моделирование траекторий ионов в веществе.
Моделирование траекторий заряженных частиц в кристаллах.
Приложения.
Список литературы.
