Надёжность электронных средств измерений

This document was uploaded by one of our users. The uploader already confirmed that they had the permission to publish it. If you are author/publisher or own the copyright of this documents, please report to us by using this DMCA report form.

Simply click on the Download Book button.

Yes, Book downloads on Ebookily are 100% Free.

Sometimes the book is free on Amazon As well, so go ahead and hit "Search on Amazon"

Рассматриваются основные теории, критерии и количественные характеристики надёжности электронных средств измерений. Большое внимание уделено оценке количественных характеристик надёжности интегральных микросхем, индикаторов, трансформаторов, коммутирующих устройств, полупроводниковых приборов, резисторов, конденсаторов, печатных плат. На данный момент является сетевым эксклюзивом

Author(s): В.С. Грубник, Ю.М. Крысин
Publisher: Изд. Пензенского Государственного Университета
Year: 2001

Language: Russian
Commentary: +OCR
Pages: 60
City: Пенза