product iamge

Методы исследования структуры полупроводников и металлов

This document was uploaded by one of our users. The uploader already confirmed that they had the permission to publish it. If you are author/publisher or own the copyright of this documents, please report to us by using this DMCA report form.

Download
Search on Amazon

Simply click on the Download Book button.

Yes, Book downloads on Ebookily are 100% Free.

Sometimes the book is free on Amazon As well, so go ahead and hit "Search on Amazon"

В пособии изложена теория основных методов исследования (оптические, рентгенодифракционные, электронографические) структуры магнитных и немагнитных полупроводниковых и диэлектрических кристаллов и эпитаксиальных пленок и устройств на их основе, а также металлических материалов. Рассмотрены области применения указанных методов исследования.

Author(s): В.Т. Бублик, А.Н. Дубровина
Publisher: Металлургия
Year: 1978

Language: Russian
Pages: 272
City: Москва

Часть 1. Исследование структуры с помощью световых микроскопов
1. Физические основы световой микроскопии
2. Применение методов световой микроскопии
Часть 2. Рентгеновские дифракционные методы анализа структуры вещества
1. Элементы теории дифракции
2. Методы рентгеноструктурного анализа
3. Применение рентгеновских лучей для исследования структуры кристаллов
Часть 3. Дифракция электронов и нейтронов
1. Применение электронов для исследования структуры кристаллов
2. Основы нейтронографии
3. Электронная микроскопия