В монографии рассматриваются вопросы долговечности интегральных схем в целом и элементов их конструкции при воздействии различных дестабилизирующих факторов, вопросы прогнозирования долговечности ИС по ускоренным испытаниям, по катастрофическим и параметрическим отказам, а также вопросы индивидуального прогнозирования долговечности схем по изменению их электрофизических параметров. Книга предназначена специалистам электронной и радиоэлектронной промышленности, студентам старших курсов и аспирантам вузов соответствующих специальностей. Книга предназначена специалистам электронной и радиоэлектронной промышленности, студентам старших курсов и аспирантам вузов соответствующих специальностей. В монографии рассматриваются вопросы долговечности интегральных схем в целом и элементов их конструкции при воздействии различных дестабилизирующих факторов, вопросы прогнозирования долговечности ИС по ускоренным испытаниям, по катастрофическим и параметрическим отказам, а также вопросы индивидуального прогнозирования долговечности схем по изменению их электрофизических параметров.
Author(s): Горлов М. И.
Publisher: Наука
Year: 2004
Language: Russian
Tags: Приборостроение;Полупроводниковые приборы;Интегральные схемы;